Authors
-
JAA Engelbrecht
Nelson Mandela-Universiteit
-
ME Lee
Nelson Mandela-Universiteit
-
JR Botha
Nelson Mandela-Universiteit
-
WE Goosen
Nelson Mandela-Universiteit
-
EG Minnaar
Nelson Mandela-Universiteit
-
V Wagner
Incomar Precise Aerospace Solutions
Keywords:
Al xGa1-xAs, refractive index, FTIR, layer thickness
Abstract
Die gebruik van aluminium gallium arsenied (AlxGa1-xAs) in optiese toestel toepassings vereis dat die brekingsindeks n van die ternêre legering as ‘n funksie van golflengte of golfgetal en die Al-molfraksie x bekend moet wees. Infrarooi spektroskopie is gebruik om beide die bandgaping Eg en die interferensiepatrone te bepaal om die epilaagdikte van AlxGa1-xAs-monsters te bereken. Twee formules wat voorgestel was om die brekingsindeks van AlxGa1-xAs te bereken, word aan die hand van die laagdikteresultate geëvalueer.
Ingedien: 27/08/2024
Aanvaar: 28/11/2024
Gepubliseer: 10/03/2025
Author Biographies
JAA Engelbrecht, Nelson Mandela-Universiteit
Sentrum vir HRTEM, Nelson Mandela-Universiteit, Suid-Afrika
ME Lee, Nelson Mandela-Universiteit
Sentrum vir HRTEM, Nelson Mandela-Universiteit, Suid-Afrika
JR Botha, Nelson Mandela-Universiteit
Departement Fisika, Nelson Mandela-Universiteit, Suid-Afrika
WE Goosen, Nelson Mandela-Universiteit
Sentrum vir HRTEM, Nelson Mandela-Universiteit, Suid-Afrika
EG Minnaar, Nelson Mandela-Universiteit
Departement Fisika, Nelson Mandela-Universiteit, Suid-Afrika
V Wagner, Incomar Precise Aerospace Solutions
Incomar Precise Aerospace Solutions, Suid-Afrika